JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (Presidente e Diretor Executivo, Izumi Oi) anunciou o lançamento do novo microscópio eletrônico de varredura com emissão de campo Schottky JSM-IT810 em 28 de julho de 2024.
Os microscópios eletrônicos de varredura com emissão de campo (FESEM) são amplamente utilizados em campos de ciência e tecnologia, como institutos de pesquisa, universidades e indústria. Há uma demanda crescente por um instrumento que possa ser utilizado de modo fácil, preciso, rápido e eficiente, da observaçãoàanálise.
O JSM-IT810 adiciona a função de observação e análise automática “Neo Action” e a função de calibração automática ao JSM-IT800, que é equipado com o sistema de controle ótico eletrônico de última geração “Neo Engine” e o “SEM Center” para alta operabilidade, como integração Zeromag e EDS, não apenas para melhorar a eficiência e a produtividade, mas também ajudar a resolver a escassez de mão de obra.
Este comunicado de imprensa inclui multimédia. Veja o comunicado completo aqui: https://www.businesswire.com/news/home/20240729372154/pt/
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810 (Photo: Business Wire)
Principais características
1. Função de observação e análise automática “Neo Action”
Tudo o que você precisa fazer é selecionar as condições de aquisição de imagem SEM e o campo de visão; a função executa automaticamente a observação SEM e a análise EDS (espectroscopia de raios X de dispersão de energia).
Esta função contribui para melhorar a eficiência do trabalho de rotina, incluindo o trabalho de análise.
2. Função de calibração automática “Pacote de Ajuste Automático SEM”
Esta função permite a execução automática dos itens selecionados no ajuste de alinhamento, ajuste de ampliação e calibração de energia EDS.
3. “Função ao vivo”
Esta função é capaz de funções Live 3D, Live Analysis e Live Map. Imagens 3D podem ser criadas no local, enquanto uma observação SEM está sendo realizada para obter informações de irregularidade e profundidade. Além disto, ela ajuda a exibir sempre o espectro de raios X característico e o mapeamento elementar.
4. Integração EDS
Observação por um SEM e análise por um EDS são integradas. Análise de ponto, área e MAP podem ser realizadas a partir da tela de observação. A incorporação do Windowless EDS-Gather-X permite detecção de Li e análise em alta sensibilidade e alta resolução espacial.
Meta de vendas unitárias anuais
220 unidades / ano
Link relacionado
Informações do produto: Microscópio eletrônico de varredura com emissão de campo Schottky JSM-IT810
https://www.jeol.com/products/scientific/sem/JSM-IT810.php
JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tóquio, 196-8558, Japão
Izumi Oi, Presidente e Diretor Executivo
(código de ações: 6951, Mercado Prime da Bolsa de Valores de Tóquio)
www.jeol.com
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Contato:
JEOL Ltd.
Divisão de Vendas de Instrumentos de Ciência e Medição
Tel.: +81-3-6262-3567
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Fonte: BUSINESS WIRE
